變頻介質(zhì)損耗測(cè)試儀的基本概念
　　變頻介質(zhì)損耗測(cè)試儀在交流電壓作用下，電介質(zhì)要消耗部分電能，這部分電能將轉(zhuǎn)變?yōu)闊崮墚a(chǎn)生損耗。這種能量損耗叫做電介質(zhì)的損耗。當(dāng)電介質(zhì)上施加交流電壓時(shí)，電介質(zhì)中的電壓和電流間存在相角差兀的余角涑莆櫓仕鷙慕牽的正切tg涑莆櫓仕鷙慕欽?。tg渲凳怯美春飭康緗櫓仕鷙牡牟問(wèn)Ｒ瞧韃飭肯唄釩ㄒ槐曜薊羋?(Cn)和一被試回路(Cx)。標(biāo)準(zhǔn)回路由內(nèi)置高穩(wěn)定度標(biāo)準(zhǔn)電容器與測(cè)量線(xiàn)路組成，被試回路由被試品和測(cè)量線(xiàn)路組成。測(cè)量線(xiàn)路由取樣電阻與前置放大器和A/D轉(zhuǎn)換器組成。通過(guò)測(cè)量電路分別測(cè)得標(biāo)準(zhǔn)回路電流與被試回路電流幅值及其相位等，再由單片機(jī)運(yùn)用數(shù)字化實(shí)時(shí)采集方法，通過(guò)矢量運(yùn)算便可得出試品的電容值和介質(zhì)損耗正切值。
　　變頻介質(zhì)損耗測(cè)試儀內(nèi)部已經(jīng)采用了抗干擾措施，保證在外電場(chǎng)干擾下準(zhǔn)確測(cè)量。
　　介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x的5種基本概念
　　1、變頻介質(zhì)損耗測(cè)試儀介質(zhì)損耗
　　什么是介質(zhì)損耗：絕緣材料在電場(chǎng)作用下，由于介質(zhì)電導(dǎo)和介質(zhì)極化的滯后效應(yīng)，在其內(nèi)部引起的能量損耗。也叫介質(zhì)損失，簡(jiǎn)稱(chēng)介損。
　　2、介質(zhì)損耗角?
　　在交變電場(chǎng)作用下，電介質(zhì)內(nèi)流過(guò)的電流相量和電壓相量之間的夾角 ( 功率因數(shù)角? ) 的余角 ( ? ) 。 簡(jiǎn)稱(chēng)介損角。
　　3、介質(zhì)損耗正切值tg?
　　又稱(chēng)介質(zhì)損耗因數(shù)，是指介質(zhì)損耗角正切值， 簡(jiǎn)稱(chēng)介損角正切。
　　這正是損失角? =( 90? -?) 的正切值。因此現(xiàn)在的數(shù)字化儀器從本質(zhì)上講，是通過(guò)測(cè)量浠蛘? ? 得到介損因數(shù)。
　　測(cè)量介損對(duì)判斷電氣設(shè)備的絕緣狀況是一種傳統(tǒng)的、十分有效的方法。絕緣能力的下降直接反映為介損增大。進(jìn)一步就可以分析絕緣下降的原因，如：絕緣受潮、絕緣油受污染、老化變質(zhì)等等。
　　測(cè)量介損的同時(shí)，也能得到試品的電容量。如果多個(gè)電容屏中的一個(gè)或幾個(gè)發(fā)生短路、斷路，電容量就有明顯的變化，因此電容量也是一個(gè)重要參數(shù)。
　　4 、高壓電容電橋
　　高壓電容電橋的標(biāo)準(zhǔn)通道輸入標(biāo)準(zhǔn)電容器的電流、試品通道輸入試品電流。通過(guò)比對(duì)電流相位差測(cè)量tg?，?uuml;霰鵲緦鞣擋飭渴云返縟萘俊Ｒ虼擻玫縝挪飭拷樗鴰剮枰曜嫉縟萜鰲⑸筆T和調(diào)壓器。接線(xiàn)也十分煩瑣。
　　5 、高壓介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x
　　變頻介質(zhì)損耗測(cè)試儀簡(jiǎn)稱(chēng)介損儀，是指采用電橋原理，應(yīng)用數(shù)字測(cè)量技術(shù)，對(duì)介質(zhì)損耗角正切值和電容量進(jìn)行自動(dòng)測(cè)量的一種新型儀器。一般包含高壓電橋、高壓試驗(yàn)電源和高壓標(biāo)準(zhǔn)電容器三部分。